?可靠度技術(shù)概念
可靠度是產(chǎn)品以標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件下,在特定時(shí)間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力,可靠度是量測失效的可能性,失效的比率,以及產(chǎn)品的可修護(hù)性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求,我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測試。
測試機(jī)臺種類
高溫貯存試驗(yàn)
低溫貯存試驗(yàn)
溫濕度貯存試驗(yàn)
溫濕度偏壓試驗(yàn)
高溫水蒸汽壓力試驗(yàn)
高加速溫濕度試驗(yàn)
溫度循環(huán)試驗(yàn)
溫度沖擊試驗(yàn)
高溫壽命試驗(yàn)
高溫偏壓試驗(yàn)
技術(shù)原理
可靠性可以定義為產(chǎn)品在特定的使用環(huán)境條件下,在既定的時(shí)間內(nèi),執(zhí)行特定功能,成功達(dá)成工作目標(biāo)的機(jī)率。對于可靠性*直接影響的環(huán)境因子有,溫度變化、溫度、濕度、機(jī)械應(yīng)力、電壓…等等??煽啃詼y試主要針對組件在各種環(huán)境下進(jìn)行實(shí)驗(yàn),以加速各組件老化及發(fā)生失效現(xiàn)象,進(jìn)而達(dá)到改善設(shè)計(jì)、材料或是制程參數(shù)的目的。
環(huán)境測試
· 高溫貯存試驗(yàn) 在高溫的狀態(tài)下,使組件加速老化??墒闺姎庑阅芊€(wěn)定,以及偵測表面與結(jié)合缺陷。
· 低溫貯存試驗(yàn)) : 在極低的溫度下,利用膨脹收縮造成機(jī)械變型。對組件結(jié)構(gòu)上造成脆化而引發(fā)的裂痕。
· 溫濕度貯存試驗(yàn)) : 以高溫潮濕的環(huán)境,加速化學(xué)反應(yīng)造成腐蝕現(xiàn)象。測試組件的抗蝕性。
· 高溫水蒸汽壓力試驗(yàn))/高加速溫濕度試驗(yàn) : 與溫濕度貯存試驗(yàn)原理相同,不同地方是在加濕過程中,壓力大于大氣壓力,更加速了腐蝕速度,引發(fā)出封裝不佳的產(chǎn)品,內(nèi)部因此而腐蝕。
· 溫度循環(huán)試驗(yàn)) : 使零件冷熱交替幾個(gè)循環(huán),利用膨脹系數(shù)的差異,造成對組件的影響??捎脕硖蕹蚓Я)p打線及封裝等受溫度變化而失效之零件。
· 溫度沖擊試驗(yàn)( : 基本上跟溫度循環(huán)試驗(yàn)原理一樣,差異是加快溫度變化速度。測定電子零件曝露于極端高低溫情況下之抗力,可以偵測包裝密封﹑晶粒結(jié)合﹑打線結(jié)合﹑基體裂縫等缺陷。
· 高溫壽命試驗(yàn)( : 利用高溫及電壓加速的方法,在高溫下加速老化,再外加訊號進(jìn)去,仿真組件執(zhí)行其功能的狀態(tài)。藉短時(shí)間的實(shí)驗(yàn),來評估IC產(chǎn)品的長時(shí)間操作壽命。
· 前處里() 對零件執(zhí)行功能量測﹑外觀檢查﹑超音波掃瞄(SAT) ﹑溫度循環(huán)) ﹑烘烤( )浸濕( )等程序。仿真組件在開始使用前所經(jīng)歷的運(yùn)輸、儲存、回焊等變化做為其它可靠性試驗(yàn)之前置處理。
電磁干擾測試
· 靜電測試
· 電性拴鎖測試
· 電磁波干擾測試
· 測試條
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