?GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條
件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于對(duì)GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱
試驗(yàn)》、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.16
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和
周期檢驗(yàn)。
本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
?2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，
其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)
議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)（GB/T 2423.3
－
2006， IEC 60068
－
2
－
78：2001，IDT）
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法（GB/T
2423.4
－
2008， IEC 60068
－
2
－
30：2005，IDT）
GB /T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長霉（GB/T 2423.16
－
1999，
idt IEC 60068
－
2
－
10：1988）
GB/T 2424.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB/T 2424.6
－
2006， IEC
60068
－
3
－
6：2001，IDT）
GB/T 5170.1
-
2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T 6999 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表
GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分：分度表（GB/T 16839.1
－
1997，idt IEC 60584
－
1：1995）
IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件
掃一掃關(guān)注一品
